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      1. 產品導航

        電容器高溫老化測試系統(MKP2005)

        該系統可進行室溫+10℃~200℃的電容器老化篩選試驗,提供高達4500V的老化電壓,老化過程中實時監測被測器件的漏電流狀態、被測器件的電壓狀態,對超限器件進行保護剔除,并根據需要記錄老化數據,導出試驗報表。

        功能
        • nA級別的漏電流檢測精度
        • 整機30s的全工位數據刷新
        • 獨特高壓抑制電路,器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進程
        • 獨特的自動充放電回路設計
        • 充分的實驗員人體安全考慮設定
        產品特性

        試驗溫區

        1個

        試驗溫度

        室溫+10~200℃

        老化試驗區

        16區(16/32/40/48區可選)

        單區工位數

        24(典型)

        老化電壓范圍

        500~4500V

        電壓檢測精度

        ±(1%+2LSB)

        電流檢測范圍

        10nA~1000uA

        電流檢測精度

        ±(1%+10nA)

        整機供電

        三相AC380V±38V

        最大功率

        8KW(典型)

        整機重量

        680KG(典型)

        整機尺寸

        1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

        適用標準

        GJB360 MIL-STD-202E

        適用器件

        適用于片式陶瓷電容器(MLCC)、云母、薄膜、紙介、陶瓷和金屬化紙介電容器等

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