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      1. 產品導航

        電源模塊高溫老化測試系統(MPS2000)

        該系統對于電源模塊試驗要求,提供高溫環境,以及試驗條件(包括輸入電源、負載、輸出電壓、負載電流等),同時進行各種試驗條件的檢測,包括輸入電壓、試驗箱溫度、器件輸出電壓、輸出電流等主要參數。系統可適應于研究所、微電路器件生產廠等進行各種器件的壽命篩選試驗和二次篩選試驗,適用于小批量多品種的試驗要求。

        功能
        • 實時監測被測器件電應力、溫度應力等信息,自動記錄過程信息
        • 高速采集系統采用高速、高精度ADC采樣
        產品特性

        試驗溫區

        1個

        試驗溫度

        室溫+10~200℃

        老化試驗區

        16區(16/24/32區可選)

        老化板接口

        大電流針孔連接器或金手指

        電子負載數量

        單區12/16路,整機192~512

        一級電源可選

        40V/60V/100V/300V/600V

        線性耗散型10V正負載

        0.8~10VDC、300mA~30A、32W、恒流精度±(1%+50mA)、可并聯

        線性耗散型30V正負載

        0.8~30VDC、50mA~6.25A、32W、恒流精度±(1%+5mA)、可并聯

        線性耗散型1 0 0 V 正 負 負 載

        ±3.3~±100VDC、±(50mA~5A)、32W、恒流精度±(1%+5mA)、可并聯

        殼溫控制范圍和精度(可選)

        60~125℃、±(1%+1℃)

        整機供電

        三相AC380V±38V

        最大功率

        12KW(典型)

        整機重量

        680KG(典型)

        整機尺寸

        1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)(16區)

        適用標準

        GJB548 MIL-STD-883D MIL-M-28787 AEC-Q100 JESD22A-108 GB2423

        適用器件

        適用于DC/DC電源模塊、LDO集成電路、BUCK集成電路、DRMOS集成電路

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