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      1. 產品導航

        光耦老化測試系統(GPIC2004)

        該系統可對各種單光耦、雙光耦、四光耦器件進行高溫恒流和恒功率老化,適應輸入端種類:各種雙向輸入型、單向輸入型器件;適應輸出端種類:三極管、達林頓管、可控硅、數字電路等。系統可適用于研究所、微電路器件生產廠等進行各種器件的壽命篩選試驗和二級篩選試驗,適用于小批量多品種的試驗要求。

        功能
        • 驅動板功能模塊化,由各個模塊實現不同功能,后續更換維修方便
        • 可對不同通道數,種類光耦進行測試,通用性強
        • 有1024個恒流環,可對每一路單獨校準,實現高精度測試
        • 可兼容各種不同型號老化板,實現對不同器件的老化
        產品特性

        試驗溫區

        1個

        試驗溫度

        室溫+10~200℃

        老化試驗區

        16區

        負載恒流控制范圍

        1~80mA

        程控精度

        ±(1.0%xRD+2LSB)

        電壓檢測范圍

        0.1V~120.0V、誤差±(1.0%xRD+2LSB)

        老化通道數

        16x64=1024

        漏電流檢測范圍

        1~100mA

        漏電流檢測精度

        ±(1.0%xRD+2LSB)

        老化模式

        具有恒流恒功率兩種工作模式

        恒功率檢測誤差

        ±(3.0%xRD+3mW)

        電源

        0~60V/40A(8路可選配)

        整機供電

        三相AC380V±38V

        最大功率

        8KW(典型)

        整機重量

        650KG(典型)

        整機尺寸

        1400mm(W)×1400mm(D)×2000mm(H)

        適用標準

        GJB128 GJB33 MIL-STD-75

        適用器件

        適應于各種單光耦、雙光耦、四光耦器件;各種雙向輸入型、單向輸入型器件;三極管、達林頓管、可控硅、數字電路等

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