<label id="lsjwy"></label>
    1. <em id="lsjwy"></em>

      <li id="lsjwy"><acronym id="lsjwy"></acronym></li>
      <li id="lsjwy"><acronym id="lsjwy"></acronym></li>
        <ol id="lsjwy"><object id="lsjwy"><input id="lsjwy"></input></object></ol>

      1. 當前位置: 首頁 新聞資訊 技術專欄 超大規模集成電路老化測試系統的研究應用

        超大規模集成電路老化測試系統的研究應用

        2020/12/30

          隨著智能時代的到來,超大規模集成電路在高端設備制造、5G、消費類電子產品的應用日趨廣泛。與此同時,由超大規模集成電路產品瑕疵所引發的問題事故也層出不窮,在不同領域造成了嚴重的經濟損失和商業影響。

          超大規模集成電路的可靠性試驗已然成為半導體產業發展應用過程中最為關鍵的環節,超大規模集成電路可靠性檢測設備,正是元器件研制、生產、檢驗、應用等過程中最為關鍵的核心部分,更是終端產品質量的強有力保障。

          01

          杭可儀器始終專注創新、不斷加大研發力度,經過多年的技術積累與沉淀,針對超大規模集成電路的特質與老煉試驗需求,杭可儀器推出了自動化程度更高、顆?;潭雀毜腍RIF-3000系列超大規模集成電路老化測試系統,可為可靠性測試帶來更豐富、更準確、更高效的操作體驗。

          該系列設備無論是系統性能,還是老化能力,都處于國內領先水平,尤其在信號頻率、信號完整性方面更是超越了國外主流同類型設備。

          02

          超大規模集成電路老化測試系統整機

          超大規模集成電路老化測試系統特性

          1. 全功能測試,全節點采集

          采用數字信號發生單元,通過特定的編程手段,能夠在老化過程中持續地施加激勵信號,器件根據激勵信號做出相應的工作狀態調整,并且設備會持續地監測器件的輸出狀態,真正實現了老化過程中的全功能測試。器件在嚴苛環境下使用的穩定性得到了更加充分的驗證,更加充分地篩選出因工藝或者設計問題導致不穩定的芯片,進一步提升器件在后續使用過程中的可靠性。

          數字信號發生單元,還可以向各類可編程器件DSP、MCU、CPLD、SOC的內部通信接口、邏輯塊、存儲單元、乘法器、IO單元等內部邏輯單元提供多種信號和向量集,并對每塊老化板上器件所有輸出管腳信號進行監測,使老化過程中的故障排查,更加徹底有效。

          2. 排查故障,揭示隱患

          可以在老化的同時對集成電路各管腳的連接性、漏電流、驅動電流、功能和電參數進行檢測,將故障檢測至單元級,為失效機理分析及改進制造工藝提供依據;能檢測到“可恢復性”故障,防止某些超大規模集成電路在老化過程中功能失效或電參數指標下降,但在冷卻或常溫時又復原,并能通過后續的功能測試和電參數測試。

          3. 精確溫控,模塊設計

          整機采用一個獨立式充氮高低溫試驗箱,烘箱內部采用強排風設計通過冷風帶走老化器件的多余熱量。

          單區提供32路獨立溫控平臺,可同時適應不同溫度要求的器件老煉測試。驅動板采用模塊化設計,采用母板和子板對插的方式,便于系統后期升級與維護。

          4. 高效、高能的PMU

          采用參數測量單元(PMU)加壓功能,可以動態施加模擬信號給ADC作為激勵模擬信號;通過參數測量單元(PMU)測量電壓功能,實時監測DAC輸出狀態;通過參數測量單元(PMU)在超大規模集成電路老化過程中,實現對管腳DC參數的測試。

          03

          HRIF-3000超大規模集成電路老化測試系統的信號發生單元,可以模擬多種通信協議格式,能夠真實地模擬超大規模集成電路在實際應用場合下的工作狀態。

          并且,在器件老化的過程中可以插入電參數測試和功能測試,此舉解決了超大規模集成電路在老化時無法并行測試的痛點,徹底改變了單一老化的程序形態,無縫銜接的多元化并行測試,大大提高了整體工作效率,有效填補了國內外技術領域空白。

          附:HRIF-3000主要技術指標:

        97视频在线观看_A片免费手机_天天干天天弄_韩国三级中文字幕hd高清